Zeta電位儀產(chǎn)品及廠家
便攜式ph/orp檢測儀， ph、氧化還原電位測量儀 型號bxs01-ph 物理儀器->粉體設(shè)備->zeta電位儀 配以合適的電，能夠測量ph、氧化還原電位 操作簡單，使用方便
更新時間:2025-07-09
美國mns公司超聲粒度儀系列主要由 zeta-aps,aps-100,zetafinder zf400,zetaacoustic za500,chdf-3000/4000組成，可以為各行業(yè)提供業(yè)的粒度和zeta電位解決方案。 超聲法系列粒度儀測試樣品的原理是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強度的超聲波，由于不同粒徑大小的顆粒對聲波的吸收、散射作用不同， 導(dǎo)致聲波衰減程度不同。
更新時間:2025-07-09
美國mas公司研發(fā)的多功能超聲粒度分析儀系列產(chǎn)品，完美的解決了目市面上光學(xué)方法無法克服的納米粒度檢測難題，如光學(xué)方法必須要對樣品進行稀釋 后測試其粒徑和zeta電位以及對于復(fù)雜體系無法給出真實的粒度分布等 。
更新時間:2025-07-09
美國mas超聲粒度儀電位分析儀，該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時從任何現(xiàn)場或?qū)嶒炛蝎@取，可直接實時獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時間:2025-07-09
美國mas超聲粒度儀和zeta電位分析儀，該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時從任何現(xiàn)場或?qū)嶒炛蝎@取，可直接實時獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時間:2025-07-09
美國mas超聲粒度分析儀，可測量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測量1nm到50um的樣品顆粒。該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時從任何現(xiàn)場或?qū)嶒炛蝎@取，可直接實時獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時間:2025-07-09
aps 從聲衰減光譜測量產(chǎn)生psd數(shù)據(jù)，不需要稀釋樣品。aps還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、ph、電導(dǎo)率和溫度。
更新時間:2025-07-09
1)采用門的電動聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。2)提供數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確而不需要稀釋樣品，從而避免了稀釋器材的使用和錯誤(樣品稀釋，zeta電位將*改變);3)該儀器可同時測量zeta電位
更新時間:2025-07-09
1)采用門的電動聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。2)提供數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確而不需要稀釋樣品，從而避免了稀釋器材的使用和錯誤(樣品稀釋，zeta電位將*改變);3)該儀器可同時測量zeta電位
更新時間:2025-07-09
1)采用門的電動聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限。2)提供數(shù)據(jù)快速準(zhǔn)確而不需要稀釋樣品，從而避免了稀釋器材的使用和錯誤(樣品稀釋，zeta電位將*改變);3)該儀器可同時測量zeta電位
更新時間:2025-07-09
zetafinder zf400高濃度zeta電位分析儀 ，采用專門的電動聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時測量zeta電位、ph、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作；
更新時間:2025-07-09
chdf4000是基于光散原理的儀器，使用最新的技術(shù)對高分辨率的粒度分布(psd)進行測量，包括高粒子檢測靈敏度、動態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析；chdf4000可提供完整范圍5納米至nm3微米，真實的psd數(shù)據(jù)；
更新時間:2025-07-09
zetaacoustic za500 電位分析儀，結(jié)合zeta電位分析儀、聲波、電聲測量三合一很強，高的分辨率，免稀釋 zeta電位分析。mas應(yīng)用科學(xué)公司發(fā)明電動聲波振幅（esa）技術(shù)用于高百分比之固體 zeta 表面測量。mas將其獨特的專業(yè)知識應(yīng)用在 zeta 電位和粒度分析儀器的設(shè)計，使其成為 mas很強而有力的發(fā)明zeta電位量測儀。
更新時間:2025-07-09
采用專門的電動聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時測量zeta電位、ph、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作；
更新時間:2025-07-09
zeta電位分析儀zeta可以測試：粒徑、zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。此儀器容易使用、測量精確。對于高達60%（體積）濃度的樣品，也無需進行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。
更新時間:2025-07-09
zetafinder電位分析儀，該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時從任何現(xiàn)場或?qū)嶒炛蝎@取，可直接實時獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時間:2025-07-09
美國mas納米粒度及zeta電位分析儀,可以測試：粒徑、zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。此儀器容易使用、測量精確。對于高達60%（體積）濃度的樣品，也無需進行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。
更新時間:2025-07-09
粒徑檢測分析儀美國mas公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、 zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)。超聲法原理測試樣品的顆粒分布，是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強度的超聲波在樣品中傳播，由于不同大小粒徑對聲波的吸收、散射作用不同，導(dǎo)致聲波衰減程度不同。粒徑分析儀根據(jù)顆粒大小和聲波衰減之間的函數(shù)關(guān)系，得到顆粒的粒度
更新時間:2025-07-09
zeta電位測定 美國maszeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進行電位測量；樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；
更新時間:2025-07-09
1)可進行詳細的、絕對的粒度分析，不需要稀釋；2)不需要設(shè)置稀顆粒大小數(shù)據(jù)，aps可測量未稀釋的和/或不透明的樣品；3)更好的是，與其他粒度分析儀不同的是，你不必知道一個先驗的或猜測的樣品粒度分布(psd)形狀；4)aps同時產(chǎn)生未稀釋的psd數(shù)據(jù)，聲衰減和聲音速度譜，固體含量，ph，電導(dǎo)率和溫度；
更新時間:2025-07-09
zeta-asp是高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測儀，可以測試：粒徑、zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。此儀器容易使用、測量精確。對于高達60%(體積)濃度的樣品，也無需進行稀釋或樣品前處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。結(jié)構(gòu)設(shè)計緊揍，外置的zeta電位滴定裝置(可選配)自動摘定裝置可自動、快速地判斷等電點，可快速得到最佳分散劑和絮凝劑
更新時間:2025-07-09
arepa 原液在線納米粒度儀，在線粒度測量，工業(yè)加工狀態(tài)，不必稀釋樣品經(jīng)硬件設(shè)計可全(24 hours/7 days) 候運作，無需移動部件實時控制的快速測量 這款新型的聲波傳感器粒徑測量可用在許多工業(yè)生產(chǎn); 如加工管道、化學(xué)反應(yīng)器、瓷磚印刷設(shè)備、半導(dǎo)體 cmp 拋光、石油生產(chǎn)/加工、藥品輸送系統(tǒng)等，同時具有顯著的經(jīng)濟效益。
更新時間:2025-07-09
該儀器可同時測量zeta電位、ph、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)。樣品在測量時甚至可以進行滴定操作；自動滴定法用于簡單的iep測量；
更新時間:2025-07-09
美國mas公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、 zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)。超聲法原理測試樣品的顆粒分布，是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強度的超聲波在樣品中傳播，由于不同大小粒徑對聲波的吸收、散射作用不同，導(dǎo)致聲波衰減程度不同。根據(jù)顆粒大小和聲波衰減之間的函數(shù)關(guān)系，得到顆粒的粒度
更新時間:2025-07-09
電聲法zeta電位分析儀,樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進行電位測量；
更新時間:2025-07-09
超聲法原理粒度電聲法zeta電位分析儀可以檢測樣品的高濃度可達60%(體積比)，被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量；
更新時間:2025-07-09
美國maschdf3000-原液高濃度納米粒度儀精確非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—歸功于其與顆粒密度無關(guān)的分析。自動/無人操作。所有組件都在個簡易單窗口界面控制和操作。
更新時間:2025-07-09
分餾法原液高分辨納米粒度儀毛細管流體分離（chdf）技術(shù)是種高分辨的粒度分布（psd）檢測技術(shù)。毛細管流體分離技術(shù)（chdf）用于測量粒徑在5nm-3μm 范圍內(nèi)膠體的粒度分布（psd）。
更新時間:2025-07-09
超聲電聲法zeta電位分析儀，該儀器操作非常簡單。它提供電腦控制、自動測量，不須特別的樣品池，樣品可隨時從任何現(xiàn)場或?qū)嶒炛蝎@取，可直接實時獲得理想的數(shù)據(jù)
更新時間:2025-07-09
美國mas高分辨納米粒度zeta電位分析儀粒子分餾的真的 psd 數(shù)據(jù)。無需對粒徑分布的形狀進行假設(shè)。精確非均勻樣品分析—包括納 米顆粒—歸功于其與顆粒密度無關(guān)的分析。自動/無人操作。所有組件都在一個簡易單一窗口界面控制和操作。
更新時間:2025-07-09
美國mas粒度zeta電位分析儀可以測試：粒徑、zeta電位、滴定、電導(dǎo)等。對于高達60%（體積）濃度的樣品，也無需進行稀釋或樣品處理，即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。
更新時間:2025-07-09
dt300/310粒度和zeta電位分析儀器采用多頻電聲學(xué)測量技術(shù)測量膠體體系的zeta 電位。對于高達50％（體積）濃度的樣品，無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用其直接進行測量。
更新時間:2025-07-09
歐奇奧 sievecal篩網(wǎng)校準(zhǔn)檢測儀通過全計算機控制的標(biāo)準(zhǔn)操作程序（sop）提供篩網(wǎng)表面的一個完整掃描。快速高分辨工業(yè)相機, 結(jié)合遠心鏡頭和平行背光可在篩網(wǎng)旋轉(zhuǎn)和轉(zhuǎn)換中獲得圖像。軟件實時計算網(wǎng)孔大小和絲徑粗細。檢測結(jié)束后，將檢測報告打印或存儲在電腦中
更新時間:2025-07-09
zeta電位測定儀zetacad：是專門用多孔塞技術(shù)直接測定流動電位/流動電流的zeta電位分析儀。該技術(shù)適用于50μm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解質(zhì)可以透過的曲面膜或中空纖維樣品。
更新時間:2025-07-09
zeta cad表面zeta電位分析儀是專門用多孔塞技術(shù)直接測定流動電位/流動電流的zeta電位分析儀。該技術(shù)適用于50μm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解質(zhì)可以透過的曲面膜或中空纖維樣品。
更新時間:2025-07-09
膜zeta電位分析儀是門用多孔塞技術(shù)直接測定流動電位/流動電流的zeta電位分析儀，該技術(shù)適用于50µm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解質(zhì)可以透過的曲面膜或中空纖維樣品
更新時間:2025-07-09
litesizer™ 500 納米粒度及zeta電位分析儀是用于表征分散型樣品和溶液中納米顆粒以及微顆粒的儀器。它可通過測量動態(tài)光散射 (dls)、電泳光散射 (els) 和靜態(tài)光散射 (sls) 來測定顆粒尺寸、zeta電位和分子質(zhì)量。
更新時間:2025-07-09
zetacompact®圖像法zeta電位分析儀采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
更新時間:2025-07-09
密度高或粒徑大的顆粒會沉積在測量室底部。顯微電泳法zeta電位分析儀采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。
更新時間:2025-07-09
zetacad固體表面zeta電位分析儀是直接測定流動電位/流動電流的zeta電位分析儀，幫助科研人眼在化學(xué)于材料科科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)改善和調(diào)整表面特征。適用于沉積的大顆粒、纖維、和平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解液科研透過的曲面膠或中空纖維樣品，包括聚合物、紡織、陶瓷、玻璃等，對不同形狀和尺寸的固體及粉末材料均適用。
更新時間:2025-07-09
液體介電常數(shù)測定儀是從純水到非極性有機溶劑的介電常數(shù)測定，英文名：liquid dielectric constant meter，操作極其簡單，只要將電極插入液體，并調(diào)節(jié)前面板上的兩個控制鈕， 即可讀出所顯示的介電常數(shù)值。
更新時間:2025-07-09
電聲法孔隙率及zeta電位分析儀基于電聲學(xué)原理，幾乎能夠應(yīng)用于所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng)，包括固體顆粒物、沉積物、多孔材料等。孔隙度的測量是基于我們的高頻電導(dǎo)探頭。包括巨石、地核、瓷磚、cmp漿料，納米分散體系、陶瓷漿料，電池漿料，水泥家族，藥物乳劑等
更新時間:2025-07-09
高濃體系zeta電位分析儀基于電聲法原理,利用超聲波在含有顆粒的連續(xù)相中傳播時，聲與顆粒的相互作用產(chǎn)生的聲吸收、耗散和散射所引起的損失效應(yīng)來測量顆粒。無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量，包括cmp漿料，納米分散體系、陶瓷漿料，電池漿料，水泥，化妝品、藥物乳劑等
更新時間:2025-07-09
高分辨率納米粒度和zeta電位分析儀 基于動態(tài)光散射（dls）和激光多普勒電泳（lde）技術(shù)，可提供高分辨率，準(zhǔn)確和快速的粒度和zeta電位測試及原位測試。
更新時間:2025-07-09
nicomp380 z3000 亞微米粒徑電位檢測儀采用先進的設(shè)計理念優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計，充分有效地融合了動態(tài)光散射（dls）和電泳光散射（els）技術(shù)，即可以多角度檢測分析液態(tài)納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測量zeta電位。粒度測試范圍：0.3 nm – 10μm。
更新時間:2025-06-26
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