掃描電子顯微鏡（SEM）產品及廠家
日立高新掃描電子顯微鏡flexsem 1000 i掃描電子顯微鏡可對材料的表面進行高倍率觀察及高精度元素分析，在納米技術、生命科學、產品設計研發及失效分析等領域有著廣泛的應用。flexsem 1000
更新時間:2025-07-10
日立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡su9000日本日立hitachi超高分辨場發射掃描電子顯微鏡regulus系列 的詳細介紹 沿用"su8200系列"的冷場發射電子槍*2 采用電子束在fla
更新時間:2025-07-10
產品說明： kyky-em3200系列掃描電鏡在電氣控制系統、計算機系統、操作控制軟件、圖像控制系統、圖像處理軟件、自動控制功能 等諸多方面都進行了改進。主要特點是穩定可靠、結構緊湊、操作方便、維護簡單，是一款性價比較高的經濟型電鏡。
更新時間:2025-07-10
類型 電子顯微鏡 品牌 中科 型號 kyky-em6900 目鏡放大倍數 n/a 物鏡放大倍數 n/a 儀器放大倍數 1.5-300000x 加工定制 否
更新時間:2025-07-10
產品說明： kyky-2800型掃描電子顯微鏡是中國科學院在幾十年的掃描電鏡研究和生產基礎上，引用現代最新計算機及數字圖像技術， 開發出的高性能產品。該產品除具有原kyky電鏡優良工藝和穩定可靠特性外，新增加了各種計算機自動控制及調節功能，尤其是采用了專用圖像處理器進行圖像分析處理，使掃描電鏡與圖像分析得到完美結合。在window
更新時間:2025-07-10
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數據存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態或缺陷 。
更新時間:2025-07-10
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質都能被發現。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2025-07-10
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統,適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內部的裂縫或雜質就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達450mm，檢測時間短，也不需要做其它設定。
更新時間:2025-07-10
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時間:2025-07-10
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學者易懂的樣品交換導航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-07-10
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發的高亮度電子槍和透鏡系統，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業速度。
更新時間:2025-07-10
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-07-10
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-07-10
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-07-10
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-07-10
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構，在隔離空氣的環境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-07-10
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-07-10
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環境。
更新時間:2025-07-10
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統 jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結構。
更新時間:2025-07-10
日本jeol 雙束加工觀察系統 jib-4700f，該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統，在1kv低加速電壓下,實現了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-07-10
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-07-10
德neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設計優勢，采用專利保護的雙光路設計，完全可以實現真空環境下太赫茲波段應用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實現近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-07-10
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩定性的傳統，同時將分辨率提高到新的限，全新設計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標配 jeol 新開發的 neo
更新時間:2025-07-10
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數據存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態或缺陷 。
更新時間:2025-07-10
上海祥樹歐茂機電設備有限公司成立于1999年，經過多年的努力與良好的信譽度，公司與國際機電行業品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個穩定而高效的全球化國際供應鏈體系，竭真探頭盡全力為客戶提供服務。
更新時間:2025-07-10
上海祥樹歐茂機電設備有限公司是中國工業控制自動化域的服務貿易商，設有德國分公司,致力于為國內客戶提供優質低價的德國及歐洲生產的各類工控自動化產品、儀器儀表、備品備件等。通過德國分公司在歐洲范圍內采購,每周日由德國分公司拼單發貨并集中辦理進口手續,為您節省運費和清關等費用;每周至少空運發貨次,為您縮短貨期;可以人民幣,美金或歐元價成交,給您多樣化的選擇。 我們期待與您共同開創美好的明天！
更新時間:2025-07-10
上海祥樹歐茂機電設備有限公司成立于1999年，經過多年的努力與良好的信譽度，公司與國際機電行業品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個穩定而高效的全球化國際供應鏈體系，竭盡全力為客戶提供服務。
更新時間:2025-07-10
上海祥樹歐茂機電設備有限公司成立于1999年，經過多年的努力與良好的信譽度，公司與國際機電行業品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個穩定而高效的全球化國際供應鏈體系，竭盡全力為客戶提供服務。
更新時間:2025-07-10
本儀器具有較高的測量精度，適用于長度和角度的精密測量；同時由于配備有多種附件，使其使用范圍得到充分的擴大。應用計算機輔助測量，能解決各種復雜的二維測量問題，主要的測量對象有：刀具、量具、模具、樣板、螺紋和齒輪類工作等
更新時間:2025-07-09
日本電子掃描電子顯微鏡jcm-700強大的"zeromag"功能，讓您從光學顯微鏡的觀察方式，輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察。"live analysis"則實現了sem影像觀察時實時的eds成份分析。
更新時間:2025-07-09
超聲掃描顯微鏡（sat）是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設備，主要利用高頻超聲波，對各類半導體器件、材料進行檢測，能夠檢測出樣品內部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷，并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中，不會對樣品造成損傷，不會影響樣品性能，可有效滿足新能源、半導體、電力電子、熱管理材料、金剛石復合材料、碳纖維復合材料等行業需求。
更新時間:2025-07-07
sigma 300 性價比高。sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
更新時間:2025-07-05
sigma 300 性價比高。sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實現基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。
更新時間:2025-07-05
evo系列電鏡是高性能、功能強大的高分辨應用型掃描電子顯微鏡。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術的物鏡設計，提供高低真空成像功能，可對各種材料表面作分析，并且具有業界先的x射線分析技術。
更新時間:2025-07-05
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-07-03
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-07-03
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達300mm ●最大觀察區域直徑達203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進行能譜分析 ● 樣品室設置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優中心馬達臺可以傾
更新時間:2025-07-03
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發的電子光學系統，強大的自動化功能，操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-07-03
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發射掃描電鏡，達到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進的真空系統和電子光學系統，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發射掃描電鏡甚至不需要傳統意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點： 1. 新型
更新時間:2025-07-03
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-07-03
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務。
更新時間:2025-07-03
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 tm4000ⅱ優化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進行多種模式成像。具有全新的sem-map導航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-07-03
phenom maps 作為一款多模態多維度地圖式圖像自動采集及拼接軟件，可自動獲取大型圖像數據集，并直觀地組合和關聯多種成像、分析模式，從而提供多尺度和多模態的表征數據。
更新時間:2025-07-03
飛納電鏡推出的 chemisem 技術，將 sem 形貌觀察與 eds 成分分析相結合，讓工作流程更加流暢，簡化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質材料等）的分析流程：通過彩色元素分布圖與 sem 圖像的實時疊加，在成像同時提供高質量的成分定性定量信息。
更新時間:2025-07-03
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