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光學測量儀產品及廠家
CoreAFM瑞士Nanosurf 原子力顯微鏡
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ,非常智能地聯合了原子力顯微鏡的核心部件來實現最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎的設計, coreafm非常合理的實現了最優化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
HMS3000,HMS5000韓國Ecopia霍爾效應測量系統
韓國ecopia霍爾效應測量系統hms3000,hms5000,用于研究半導體材料/光電材料的電學特性,可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
H5000美國 MMR 霍爾效應測量系統
美國 mmr 霍爾效應測量系統 h5000,用于研究光電材料的電學特性,利用范德堡測量技術測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。整套系統主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S半導體測試探針臺
半導體測試探針臺kup007,emp100c,emp100b,emp50s
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2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
SCALA德國Mecwins 掃描式激光分析儀
德國mecwins 掃描式激光分析儀scala,它是用激光入射掃描樣品表面,收集反射信號得到樣品表面的三維形貌和特征。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
HS1000美國NANOVEA三維表面形貌儀
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型,是一款高速的三維形貌儀,最高掃描速度可達1m/s,采用國際領先的白光共聚焦技術,可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高,速度快,重復性好的優點,該儀器可用于測量大尺寸樣品或質檢現場使用。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
Y.Cougar SMT, Y.Cheetah德國YXLON 高分辨率X射線檢測設備
德國 yxlon 高分辨率x射線檢測設備 y.cougar smt 平板探測器(標配) y.cheetah 高速平板探測器(標配)
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
Die Pick & Place Systems美國Royec芯片拾取及放置系統
美國royec芯片拾取及放置系統die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
DE35-ST美國Royec半自動型芯片拾取系統
美國royec半自動型芯片拾取系統de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面,側面檢測,可選配芯片轉向功能.
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
MT Century Curve Tracer美國RTI自動特性圖示儀
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer,是一個性價比較高的曲線追蹤設備。最多到96個channel,提供4種型號可供客戶選擇,mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性,功率和軟件。像其他rti機型一樣,mt century系統的設計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
3D Nanofinger德國Klocke Nanotech 3D納米級三維測量儀
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger,是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設備。由臺架、控制系統、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸,表面輪廓、粗糙度等,并可與超精密微加工、微組裝系統組合,進行在線檢測、質量控制等。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
SV-1A日本A&D粒子計數器(粒度計)
日本a&d粒子計數器(粒度計)sv-1a,是使用點監測的低成本替代設備,計數值高達2,000,000個粒子/ft.
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
F20,F30,F40,F50,F60,F3-XXT美國Filmetrics 薄膜厚度測量系統
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統f20,f30,f40,f50,f60,f3-xxt 系列,臺式薄膜厚度測量系統
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
ECHO-VS, ECHO Pro美國 SONIX 超聲波掃描顯微鏡
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求,更復雜元器件設計的新一代設備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產量,無需人員重復設置.
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
FTIR德國Bruker傅氏轉換紅外光譜儀
德國bruker傅氏轉換紅外光譜儀ftir -利用紅外線光譜經傅利葉轉換進而分析雜質濃度的光譜分析儀器。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
Tango,MPA,Matrix-I德國Bruker FT-NIR光譜儀
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經在包括制藥,食品,農業和化學行業在內的所有行業的質量控制應用中得到了很好的應用。它為耗時的濕法化學方法和色譜技術提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性,不需要樣品制備或危險化學品,使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
ContoruGT德Bruker光學輪廓儀
德bruker光學輪廓儀contorugt-表面量測系統-供生產qc/qa及研發研用的非接解觸型光學輪廓儀
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
ALD德國Sentech 實時監測儀
sentech ald實時監測儀是一種新型的光學診斷工具,是心靈超高分辨率的單一ald循環。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率,厚度,折射率),在短時間內開發新工藝、實時研究ald循環中的反應機理是sentech ald實時監測儀的主要應用。
更新時間:
2025-07-15
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Zip 250美國OGP光學式坐標測量儀
美國ogp光學式坐標測量儀 zip 250 ,5:1 accucentric 電動變焦透鏡,在每次放大變倍時自動校準,可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
JY—PHa接觸角測定儀
jy—pha接觸角測定儀,用于液體對固體的浸潤性,通過測量液體對固體的接觸角、計算、測定液體對固體的附著力,張力及固體表面能等指標。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
100標準型接觸角測量儀
100標準型接觸角測量儀,采用高性能日本原裝進口工業機芯,工業級連續變倍顯微鏡,確保圖像的真實性,獲取最佳的成像效果。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
HypotMAX 7710美Associated 耐壓測試儀
美associated 耐壓測試儀hypotmax 7710 ,是一款12 kvdc hipot測試儀,用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產品非常易于使用,并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統。最后,該系統具有遠程安全聯鎖和數控電弧檢測系統。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
美Montana超精細多功能無液氦低溫光學恒溫器
montana 新型超精細多功能無液氦低溫光學恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環的制冷系統只需要極少量的氦氣即可讓系統達到極限低溫。系統具有超快降溫、超低震動和超高的溫度穩定性。全自動化的控制軟件,簡化了用戶的操作流程。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
attoCSFM德國Attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡
德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數值孔徑(na)共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實驗的需求。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
WCT-120,Suns-Voc美國sinton少子壽命測試儀
sinton少子壽命測試儀wct-120,suns-voc,硅片少子壽命測試系統,采用了獨特的測量和分析技術,包括準穩定態光電導(qsspc)測量方法?伸`敏地反映單、多晶硅片的重金屬污染及陷阱效應,表面復合效應等缺陷情況。
更新時間:
2025-07-15
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Contour X布魯克Bruker白光干涉光學輪廓儀
布魯克bruker白光干涉光學輪廓儀 contour x, 滿足微納米表面測量需要
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
Contour X-200布魯克Bruker 三維光學輪廓儀
布魯克bruker contourx-200 三維光學輪廓儀,靈活的臺式表面形貌測量設備
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
DektakXT布魯克臺階儀-探針式表面輪廓儀
布魯克 dektakxt 臺階儀(探針式表面輪廓儀)設計創新,實現了更高的重復性和分辨率,垂直高度重復性高達 5å。第十代 dektakxt臺階儀(探針式表面輪廓儀)的技術突破,實現了納米尺度的表面輪廓測量,從而可以廣泛的應用于微電子器件,半導體,電池,高亮度發光二管的研發以及材料科學域。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
KS-41B日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-41b,可檢測光阻產品、sog 等產品中 0.1um 的顆粒。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
KS-19F日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍,可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
TESA 2000美AZ太陽能吸收率發射率測量儀
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計 tesa 2000,根據astm e408測定熱發射率和空氣質量為零時的太陽吸收率(空間應用)。它緊湊,輕巧,堅固耐用,符合人體工程學設計,便于在野外或實驗室中使用。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
KL-28B/28BF日本RION氣體粒子計數器
日本rion氣體粒子計數器:kl-28b/28bf( 光散射法),粒徑范圍(2個通道):≥0.2μm, ≥0.5μm, 大粒子數濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%)
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
KS-16,KS-16F日本RION 液體光學顆粒度儀
日本rion 液體光學顆粒度儀:ks-16/16f ( 光散射法), 大粒子數濃度:1 200 顆/l (誤差值低于5%), 粒徑范圍(5個通道):≥0.1μm, ≥0.15μm , ≥0.2μm , ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
KS-17B日本RION 液體光學顆粒度儀
日本rion 液體光學顆粒度儀:ks-17b ( 光散射法),純水用,大粒子數濃度:100 000 顆/ml (誤差值低于5%),粒徑范圍(2個通道):≥0.05μm, ≥0.1μm (4通道需工廠定制)
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
KS-19F日本理音RION液體光學顆粒度儀
日本理音rion液體光學顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍,可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
KC-24日本RION粒子計數器
日本rion粒子計數器kc-24 ( 光散射法),液體粒子計數器,可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體?蓽y 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時間:
2025-07-15
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KS-41A日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-41a ( 光阻用),可檢測光阻產品、sog 等產品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍(4個通道,出廠默認):≥0.15μm, ≥0.2μm , ≥0.3μm , ≥0.5μm
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
KS-18F日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion 液體光學顆粒度儀:ks-18f ( 光散射法)液體光學顆粒度儀 ks-18f寬廣的測試范圍,可測試 0.05~0.2um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。 可偵測到小粒徑 0.05um 的粒子
更新時間:
2025-07-15
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KS-42A,KS-42AF日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-42a&42af ( 光散射法),可測試 0.1~0.5um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
KS-42B,KS-42BF日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-42b/42bf ( 光散射法),寬廣的測試范圍,可測試 0.2~2.0um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
KS-42C日本RION液體光學顆粒度儀
日本rion液體光學顆粒度儀ks-42c ( 光散射法),寬廣的測試范圍,可測試 0.5~20um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準的顆粒數據。
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
KS-20F日本理音RION粒子計數器
日本理音 rion 粒子計數器 ks-20f,檢測粒徑為0.02μm的顆粒,從0.02μm到0.08μm可達7個通道
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
KC-01E日本理音RION粒子計數器
日本rion粒子計數器kc-01e ( 光散射法),液體粒子計數器,測試粒徑(5個通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
KC-03B日本理音RION粒子計數器
日本rion粒子計數器kc-03b ( 光散射法),測試粒徑(5個通道):≥0.3μm, ≥0.5μm , ≥1μm , ≥2μm, ≥5μm
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
DSC 300德國NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ,是全面、可靠的dsc儀器系列,表征材料熱性能游刃有余。
更新時間:
2025-07-15
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LFA 467 HyperFlash德國NETZSCH 閃射法導熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導熱儀,自由選擇測試氣氛,優化結構設置與閃射光源,16位自動進樣器,高的測量效率,寬廣的溫度范圍,靈活配備冷卻系統,設計獨特,性能優異,配備氙燈光源的,高溫測試系統,寬廣的溫度范圍,真空密閉爐體,確保氣氛純凈,防止氧化,內置微型管式爐,更高的測量效率,高數據采集速率- 用于薄膜與高導熱材料的解決方案
更新時間:
2025-07-15
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深圳市藍星宇電子科技有限公司
Model 659OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時間:
2025-07-15
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TFXRD-300/200日本理學X射線衍射儀
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀,用于氮化鎵(gan)質量管理,可對應大規格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統
更新時間:
2025-07-15
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TFXRD-300/200日本理學X射線衍射儀
日本理學x射線衍射儀 tfxrd-300/200, 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學元件可選的高精度測角儀,用于氮化鎵(gan)質量管理,可對應大規格晶圓的x射線衍射分析(xrd)系統
更新時間:
2025-07-15
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德國ThetaMetrisis FR-Mini 膜厚測量儀
fr-mini 是一款緊湊型裝置,專為大學教育和研究實驗室設計,用于快速、準確和無損地表征各種不同的涂層。使用 fr-mini,用戶還可以在較寬的光譜范圍內輕松進行反射率和/或透射率測量。
更新時間:
2025-07-15
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共3107條
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蕉岭县
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修文县
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