數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀QUC-200
| 用途：測(cè)定鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度 試驗(yàn)技術(shù)特征：專(zhuān)用于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度測(cè)定;機(jī)內(nèi)備有充電電池便于涂裝施工現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用 | |
測(cè)定鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1764-79 GB/T13452.2-92 ISO2808-74QUC-200數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀試驗(yàn)技術(shù)特性適用于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度的測(cè)定，機(jī)內(nèi)備有充電電池，便于涂裝施工現(xiàn)場(chǎng)使用。QUC-200數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀主要技術(shù)參數(shù)測(cè)量范圍：0-200μm測(cè)量精度：（±0.7μm+3%H）＊H為標(biāo)準(zhǔn)厚度
| 技術(shù)參數(shù)： | 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T1764-79 GB/T134522-92 ISO2808-74測(cè)量范圍：0-200μm測(cè)量精度：+/-（0.7μm+3％H）＊H為標(biāo)準(zhǔn)厚度 |
本品符合GB1764﹑GB/TB452.2.ISO2808標(biāo)準(zhǔn)，用于測(cè)量涂鍍層厚度。技術(shù)要求：測(cè)量范圍2-200μm測(cè)量精度±（0.7Uum±3%）可測(cè)量φ20mm以上曲面及薄板涂層厚
| 技術(shù)參數(shù)：依據(jù)磁阻原理對(duì)磁性材料表面上的非磁性涂鍍層厚度進(jìn)行非破壞性測(cè)量的儀器測(cè)量范圍：0～200μm測(cè)量精度：±（3%H+0.7）μm分辨率：0.1μm |
QUC-200數(shù)顯式磁性測(cè)厚儀測(cè)定磁性材料基體上非磁性涂鍍層厚度 GB/T1764-89 GB/T13452.2-92 ISO2808-74專(zhuān)用于磁性材料基本表面非磁性涂鍍層厚度測(cè)定。機(jī)內(nèi)備有充電電池，便于涂裝施工現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用
技術(shù)參數(shù)：
測(cè)量范圍：0-200μm測(cè)量精度：
±（0.7μm+3%H）
注：H為標(biāo)稱(chēng)值